1、独有的永不间断电接触设计：行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻值，彻底消除任何因探针导致的假性开路误叛。
2、增强耐用度：测试针设计使弹簧空间比传统探针要大，因而可以达到更长的寿命和容纳更强的弹力。
3、目标测点精准度误差更严谨：测试针能达到同类型产品无法比拟的至目标测点精准度。测试针因为更加精细，通常直径都是0.58mm以下，总长不超过6毫米，所以能够达到同规格产品更好的精准度。冶具通用性高，只需更换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒；采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品，可使IC和PCB之间的数据传输距离更短，从而保证测试结果更稳定，频率更高，DDR3系列最高频率可达2000MHz。
以上3点就是测试治具测试针的功效，所以它也是测试质量的重要因素，如果有需要购买测试的朋友可以联系我们。
